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公差配合與技術測量

公差配合與技術測量

定  價:37 元

        

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  • 作者:薛慶紅
  • 出版時間:2018/9/1
  • ISBN:9787040500110
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書的編寫結合了近年來高等職業(yè)教育改革的成果以及高等職業(yè)教育的特點,以成果導向為主導思想,理論與實踐緊密結合。全書采用*頒布的國家標準,把傳統(tǒng)測量技術與先進測量設備及新技術應用相結合,使教材內(nèi)容與技術發(fā)展緊密結合。 本書共分7章,內(nèi)容包括: 緒論,尺寸的公差、配合與檢測,幾何公差與檢測,表面粗糙度與檢測,圓錐和角度的公差與檢測,光滑極限量規(guī)設計,常用結合件的公差與檢測。 本書為新形態(tài)一體化教材,書中配有微課、動畫等數(shù)字化資源,學生可以隨掃隨學。 本書可以作為高等職業(yè)院校機械類及近機械類專業(yè)專科教材,也可作為成人教育學院、函授大學、電視大學等相關專業(yè)的教材,還可作為從事機械設計與機械制造相關工作的工程技術人員的參考用書。

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