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Java開發(fā)坑點(diǎn)解析:從根因分析到最佳實(shí)踐

Java開發(fā)坑點(diǎn)解析:從根因分析到最佳實(shí)踐

定  價:119.8 元

        

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  • 作者:朱曄
  • 出版時間:2024/1/1
  • ISBN:9787115630568
  • 出 版 社:人民郵電出版社
  • 中圖法分類:TP312.8 
  • 頁碼:459
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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本書從整個Java后端研發(fā)的視角,通過大量的案例分析日常開發(fā)過程中可能遇到的150多個坑點(diǎn)及其解決方案,并討論一些best實(shí)踐。這些坑點(diǎn)涵蓋編碼(不僅涉及Java語法層面,還涉及多線程、連接池、數(shù)據(jù)庫索引、事務(wù)、日志、Spring框架等層面)、系統(tǒng)設(shè)計、代碼安全等方面。本書在剖析這些坑點(diǎn)時還會講解排查思路和相關(guān)工具的使用,讓讀者不僅能了解常見的坑點(diǎn),還能具備一定的問題分析能力,以便日后自行排查更多的坑點(diǎn)。
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