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集成電路封裝與測試(微課版)

集成電路封裝與測試(微課版)

定  價:56 元

        

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  • 作者:韓振花,馮澤虎
  • 出版時間:2024/3/1
  • ISBN:9787115629647
  • 出 版 社:人民郵電出版社
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁碼:0
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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本書較為全面地介紹集成電路封裝與測試技術知識。全書共8 個項目,包括認識集成電路封裝與測試、封裝工藝流程、氣密性封裝與非氣密性封裝、典型封裝技術、芯片測試工藝、搭建集成電路測試平臺、74HC138 芯片測試和LM358 芯片測試。每個項目均設置了1+X 技能訓練任務,幫助讀者鞏固所學的內容。 本書可以作為高職高專集成電路技術、電子信息工程技術等相關專業(yè)集成電路封裝、測試相關課程的教材,也可以作為集成電路類培訓班教材,并適合集成電路測試、芯片封裝、芯片制造等專業(yè)人員和廣大集成電路愛好者自學使用。
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