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高質(zhì)量分層測(cè)試實(shí)戰(zhàn)

高質(zhì)量分層測(cè)試實(shí)戰(zhàn)

定  價(jià):109.8 元

        

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  • 作者:?jiǎn)螙|東,陳霽著
  • 出版時(shí)間:2024/2/1
  • ISBN:9787115634993
  • 出 版 社:人民郵電出版社
  • 中圖法分類:TP311.55 
  • 頁(yè)碼:247頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:24cm
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讀者對(duì)象:本書(shū)適合軟件開(kāi)發(fā)人員和測(cè)試人員閱讀,也可供計(jì)算機(jī)相關(guān)專業(yè)的師生參考

本書(shū)以前端Vue。js架構(gòu)、后端SpringBoot架構(gòu)為基礎(chǔ),圍繞可測(cè)性、隔離性、測(cè)試有效性進(jìn)行技術(shù)架構(gòu)解析。本書(shū)主要內(nèi)容包括Jenkins流水線、Mapper測(cè)試、Service測(cè)試、Controller測(cè)試、Web測(cè)試、分層自動(dòng)化測(cè)試實(shí)戰(zhàn)、測(cè)試覆蓋率等。本書(shū)有助于讀者深入理解分層測(cè)試的技術(shù)、原理和實(shí)現(xiàn)方式,提升測(cè)試效率和測(cè)試能力。
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