本書在已有量子理論的基礎(chǔ)上，采用了廣義Hellmann-Feynman定理、正則變換、幺正變換以及Lewis-Riesenfeld不變量理論等方法對無耗散介觀耦合電路中的量子效應(yīng)、耗散介觀耦合電路中的量子漲落、介觀耦合電路中的庫侖阻塞效應(yīng)，以及熱態(tài)下介觀耦合電路中的量子效應(yīng)等問題進行了分析、歸納和研究，進一步認識介觀尺寸下的量子效應(yīng)的特征和規(guī)律，在為微電子器件和集成電路的優(yōu)化設(shè)計提供理論指導(dǎo)的同時，也對其在相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用研究具有重要的參考價值。