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PCB失效分析與可靠性測試

PCB失效分析與可靠性測試

定  價(jià):168 元

        

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  • 作者:珠海斗門超毅實(shí)業(yè)有限公司編著
  • 出版時(shí)間:2024/11/1
  • ISBN:9787121491016
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TM215.06 
  • 頁碼:463頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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本書主要總結(jié)和介紹了PCB生產(chǎn)、測試、應(yīng)用過程中常見的缺陷、失效案例,以及PCB的可靠性測試及其失效的案例。全書共6章:分別介紹了PCB不同表面處理常見的缺陷、失效類型和分析案例;PCB內(nèi)部互連缺陷ICD的分析技術(shù)和案例;PCB板料測試的各種熱分析測試和案例;X射線與超聲波掃描顯微鏡在PCB無損檢測的應(yīng)用;PCB短路與燒板案例;PCB可靠性測試,著重介紹導(dǎo)電陽極絲、互連熱應(yīng)力測試、溫度循環(huán)和耐熱沖擊測試以及相關(guān)的失效分析案例。本書以PCB生產(chǎn)制造為出發(fā)點(diǎn),將理論與技術(shù)結(jié)合,對(duì)各種不同類型的案例進(jìn)行歸納總結(jié),對(duì)于失效分析技術(shù)難點(diǎn),也介紹了近些年來新的測試技術(shù),如紅外熱成像、X射線CT等。
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