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嵌入式處理器調(diào)試方法與案例分析

嵌入式處理器調(diào)試方法與案例分析

定  價:68 元

        

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  • 作者:扈嘯,王耀華著
  • 出版時間:2024/4/1
  • ISBN:9787567306387
  • 出 版 社:國防科技大學出版社
  • 中圖法分類:TP332 
  • 頁碼:214頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:24cm
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本書共分6章:第1章介紹了研究背景和主要內(nèi)容,對目前嵌入式處理器調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域現(xiàn)狀進行了概述,對多核處理器的調(diào)試挑戰(zhàn)進行了分析;第2章對解決工程問題的通用調(diào)試方法進行了論述,重點討論了集合與邏輯、概率與因果方法、邏輯樹與故障樹等方法,提出了基于概率故障樹的推理,并特別討論了質(zhì)量歸零的方法和步驟;第3章概述了調(diào)試的技術(shù)和工具,討論了處理器調(diào)試的模型,提出了一套調(diào)試的理論模型和基于影響要素的調(diào)試方法論;第4章對嵌人式處理器系統(tǒng)的核心設計問題進行了分析論述;第5章結(jié)合10個經(jīng)典調(diào)試案例,對軟硬件多種調(diào)試過程進行了深入描述和剖析;第6章對大量調(diào)試案例進行了分類歸納并簡要分析。
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