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電子器件輻射效應仿真技術

電子器件輻射效應仿真技術

定  價:128 元

叢書名:輻射環(huán)境模擬與效應叢書

        

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  • 作者:丁李利,陳偉,王坦
  • 出版時間:2025/3/1
  • ISBN:9787030805010
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:TN6 
  • 頁碼:184
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:B5
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讀者對象:本書可作為輻射效應領域的參考用書,從事輻射物理、電子器件輻射效應與抗輻射加固技術研究的相關人員

輻射效應指的是輻射與物質相互作用產(chǎn)生的現(xiàn)象。為揭示電子器件中的輻射效應機理規(guī)律,探尋有效的抗輻射加固手段,科研工作者將輻射效應仿真視作一種有用的研究方法。本書主要介紹總劑量效應仿真技術、單粒子效應仿真技術、位移損傷仿真技術、瞬時劑量率效應仿真技術、輻射效應仿真軟件等內容,給出粒子輸運仿真、器件級仿真、電路級仿真等不同層級仿真手段在輻射效應研究中的應用案例。

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