書單推薦
更多
新書推薦
更多

現(xiàn)代分析測試技術(shù)與應(yīng)用

現(xiàn)代分析測試技術(shù)與應(yīng)用

定  價:39.8 元

        

  • 作者:于春賀,張之才著
  • 出版時間:2024/3/1
  • ISBN:9787567434844
  • 出 版 社:東北林業(yè)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB4 
  • 頁碼:153頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
9
7
4
8
3
7
4
5
8
6
4
7
4
現(xiàn)代分析測試方法是利用基于一定物理原理設(shè)計(jì)出的精密分析儀器,通過對材料物理、化學(xué)性質(zhì)參數(shù)及其變化的檢測,得到定性或定量分析結(jié)果的方法。本書以理論為主、實(shí)驗(yàn)為輔。本書共分7章闡述了現(xiàn)代分析測試技術(shù)與應(yīng)用。第1章闡述了X射線的本質(zhì)和性質(zhì)。通過X射線管的結(jié)構(gòu),介紹了X射線的產(chǎn)生;第2章闡述了電子能譜分析法,對俄歇電子能譜法和光電子能譜儀做了進(jìn)一步的詳述;第3章闡述了電子顯微鏡,包括掃描電子顯微鏡和透射顯微鏡;第4章闡述了熱分析技術(shù),對熱分析技術(shù)的方法及其應(yīng)用進(jìn)行了論述;第5章闡述了能譜與光譜的分析;第6章闡述了核磁共振波譜法,對核磁共振波譜法的原理和測試分析方法進(jìn)行了論述;第7章闡述了表面積的概述、分析方法及應(yīng)用。
 你還可能感興趣
 我要評論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容