本書(shū)先介紹晶體材料物相分析常用的X射線衍射分析，詳細(xì)介紹了x射線的發(fā)現(xiàn)、x射線的本質(zhì)和x射線的特性，重點(diǎn)介紹x射線衍射方向、衍射強(qiáng)度、衍射方法、物相分析及應(yīng)用。接著介紹材料表面形貌和成分分析常用的掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡、x射線光電子能譜。然后介紹材料分子結(jié)構(gòu)分析常用的紅外光譜和拉曼光譜。最后介紹廣泛應(yīng)用于無(wú)機(jī)物和有機(jī)高分子材料成分分析、相變和熱分解機(jī)理的熱分析技術(shù)。本書(shū)涉及到了金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料和高分子材料的各種常用的現(xiàn)代分析方法，注重理論與實(shí)際應(yīng)用相結(jié)合，既著重介紹了現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展歷史和基本原理，又在實(shí)例分析中引入了一些當(dāng)前材料界最新的研究成果。