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調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)晶體學(xué)

調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)晶體學(xué)

定  價(jià):118 元

        

  • 作者:姜小明,郭國(guó)聰
  • 出版時(shí)間:2025/6/1
  • ISBN:9787030819703
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類(lèi):O76 
  • 頁(yè)碼:239
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:B5
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讀者對(duì)象:涉及材料結(jié)構(gòu)與性能研究的化學(xué)、物理、材料學(xué)科研究生和科研工作者

調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)在很大程度上影響著材料的性質(zhì)與功能,通過(guò)實(shí)驗(yàn)手段重構(gòu)物質(zhì)或材料的調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)對(duì)闡明其構(gòu)效關(guān)系機(jī)制十分重要。實(shí)驗(yàn)上通?衫肵射線(xiàn)、中子、電子的衍射和總散射等手段來(lái)研究調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)。本書(shū)系統(tǒng)性地介紹了調(diào)制結(jié)構(gòu)和缺陷結(jié)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)測(cè)試、模型構(gòu)建與結(jié)構(gòu)精修所涉及的理論與技術(shù),同時(shí)也對(duì)完美晶體結(jié)構(gòu)研究所需的晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)作了必要的介紹,旨在讓讀者全面了解物質(zhì)和材料中調(diào)制與缺陷結(jié)構(gòu)的分析方法。

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