本書系統(tǒng)地介紹了多晶X射線衍射技術的原理、儀器、方法和應用。全書內容循序漸進，在介紹X射線的物理基礎、射線強度檢測技術及其發(fā)展、晶體和晶體衍射的理論知識基礎上，著重闡述了X射線衍射儀器和多晶衍射儀的原理，詳細論述了如何獲得正確的衍射數(shù)據、如何評估衍射實驗數(shù)據的可信度以及儀器的工作狀態(tài)等實驗技術問題。之后，又在物相分析、晶面間距或晶胞參數(shù)精測、峰形分析三方面深入介紹了多晶衍射數(shù)據在各方面的實際應用，列舉了一些實例和已發(fā)布的應用多晶衍射的測試方法標準。
本書凝結了作者50余年的X射線儀器研發(fā)和應用經驗，具有很強的實用性，可供化學、化工、材料、礦冶等領域中從事固體物質材料分析鑒定的研究人員和X射線衍射儀器操作的技術人員參考。
《多晶X射線衍射技術與應用》是北京大學江超華教授50余年多晶X射線衍射技術與儀器研發(fā)和應用經驗的總結，此書簡明實用，對化學、化工、材料、礦冶等領域中從事固體物質材料分析鑒定的研究人員和工作于粉末衍射分析工作一線的操作技術人員調試儀器、提高技能很有幫助，推薦作為從業(yè)者的入門和工作指導，也可作為儀器制造廠家和有關機構的培訓教材。。
1緒論
0.1X射線衍射分析法是研究物質微觀結構的基本實驗方法
0.2物質的性質性能都是由它的結構決定的
0.3多晶（粉末）X射線衍射分析法的應用
參考文獻
第1章X射線基礎
1.1X射線性質概述
1.2X射線的產生
1.3X射線譜
1.3.1連續(xù)光譜
1.3.2特征光譜
1.3.3X射線管的工作條件
1.4物質對X射線的衰減
1.4.1衰減公式
1.4.2質量吸收系數(shù) 1緒論
0.1X射線衍射分析法是研究物質微觀結構的基本實驗方法
0.2物質的性質性能都是由它的結構決定的
0.3多晶（粉末）X射線衍射分析法的應用
參考文獻
第1章X射線基礎
1.1X射線性質概述
1.2X射線的產生
1.3X射線譜
1.3.1連續(xù)光譜
1.3.2特征光譜
1.3.3X射線管的工作條件
1.4物質對X射線的衰減
1.4.1衰減公式
1.4.2質量吸收系數(shù)
1.4.3X射線的光電效應
1.4.4吸收性質在X射線實驗技術中的應用
1.5X射線的散射
1.5.1相干散射
1.5.2非相干散射
1.6X射線強度的檢測技術
1.6.1熒光板
1.6.2照相方法
1.6.3單點檢測器
1.6.4固體陣列檢測器
1.6.5位敏正比計數(shù)器
1.6.6成像板
1.6.7數(shù)字化X射線成像技術
1.7X射線的防護
參考文獻
第2章晶體學基礎
2.1晶體與晶體結構的基本知識
2.1.1晶體的基本特征
2.1.2點陣結構
2.1.3晶體的對稱性和晶系
2.1.4晶胞
2.1.5晶體學空間群和點群
2.1.6晶體的外形
2.1.7實際晶體與晶格缺陷
2.2晶體對X射線的衍射
2.2.1衍射方向
2.2.2衍射強度
2.2.3衍射線的峰形
2.3準晶體的衍射
2.3.1準晶體
2.3.2準晶體的衍射
參考文獻
第3章多晶X射線衍射儀
3.1X射線衍射儀器設備概述
3.1.1兩種多晶衍射幾何
3.1.2X射線多晶衍射的記錄方法
3.1.3X射線源
3.1.4單色化方法
3.1.5X射線光學元件
3.2X射線多晶衍射儀
3.2.1X射線多晶衍射儀的構成
3.2.2X射線發(fā)生器
3.2.3測角儀
3.2.4X射線強度測量記錄系統(tǒng)
3.2.5衍射儀控制及衍射數(shù)據采集分析系統(tǒng)
3.2.6樣品臺附件
3.3多晶粉末衍射數(shù)據庫和軟件
參考文獻
第4章粉末X射線衍射圖的獲取
4.1樣品準備與制片
4.1.1對樣品粉末粒度的要求
4.1.2樣品試片平面的準備
4.1.3樣品試片的厚度
4.1.4制樣技巧
4.1.5制樣小結
4.2數(shù)據收集
4.2.1實驗波長的選擇
4.2.2掃描條件的選擇
4.2.3關于實驗條件選擇的小結與示例
4.3粉末衍射圖的初步檢查
參考文獻
第5章粉末X射線衍射數(shù)據
5.1粉末X射線衍射圖的特征數(shù)據
5.1.1粉末X射線衍射數(shù)據
5.1.2衍射峰位置的確定
5.1.3衍射峰強度的表示
5.1.4衍射線的峰形數(shù)據
5.2粉末衍射峰位與峰強度數(shù)據的提取
5.2.1圖譜的平滑
5.2.2背景的扣除和弱峰的辨認
5.2.3Kα2衍射的分離
5.2.4平滑二階導數(shù)法自動讀出峰位，同時確定峰高和峰寬
5.2.5峰處理程序的流程
參考文獻
第6章粉末X射線衍射數(shù)據的不確定度
6.1測量的不確定度
6.1.1測量結果評價方法的沿革
6.1.2測量不確定度與測量誤差
6.2衍射角測量的系統(tǒng)誤差及其修正
6.2.1幾何因素引入的衍射角測量誤差
6.2.2測角儀的測角機械誤差
6.2.3物理因素引入的衍射角測量誤差
6.2.4粉末衍射角實驗值的修正
6.3粉末衍射儀衍射角的測量不確定度
6.3.1衍射儀的衍射角測量不確定度來源的分析
6.3.2衍射儀的衍射角標準測量不確定度各分量的評定
6.3.3衍射儀測定的衍射角合成標準測量不確定度的評定
6.4衍射儀衍射強度的測量誤差及其測量不確定度
6.4.1概述
6.4.2計數(shù)損失及其修正
6.4.3X射線強度測值不確定度的統(tǒng)計漲落分量
6.4.4粉末衍射強度實驗測值不確定的強度評定
6.4.5粉末衍射強度數(shù)據運算中標準不確定度的傳遞
6.5粉末X射線衍射圖譜數(shù)據的品質指數(shù)
6.6多晶衍射儀的驗收、性能的評估與常規(guī)檢查
6.6.1問題的提出
6.6.2衍射角校準用標準物質
6.6.3衍射強度校準用標準物質
6.6.4衍射儀性能指標的評估
6.6.5衍射儀運行狀態(tài)的質量控制
參考文獻
第7章X射線衍射物相定性分析
7.1何謂“物相”
7.2何謂“物相分析”
7.3方法的依據
7.3.1原理
7.3.2粉末衍射圖數(shù)據庫
7.3.3PDF2粉末衍射卡的內容
7.4參考衍射圖的檢索與匹配
7.4.1參考衍射圖的檢索、匹配
7.4.2圖、卡比對的方法
7.4.3判定為“匹配”的要領
7.5《MDI Jade》XRD圖譜處理的檢索匹配
7.5.1基于峰形的S/M的一般步驟
7.5.2物相檢索的輸出
7.6檢索匹配結論的不確定性
7.7物相檢索匹配實例
7.8未知物相的鑒定
7.8.1兩種情況
7.8.2物相結構測定的一般步驟
7.8.3粉末衍射圖指標化
7.8.4未知相晶體結構類型或空間群的確定
7.8.5新標準衍射數(shù)據卡的建立
7.9異常衍射圖例
參考文獻
第8章X射線衍射物相定量分析
8.1衍射強度與物相組成的關系
8.2比強度法
8.2.1內標方程、比強度（K值）與內標法
8.2.2外標方程與外標法
8.2.3參考比強度數(shù)據庫的建立和標準參考物質
8.2.4應用實例
8.3無標樣法
8.3.1方法的基本原理
8.3.2樣間同相消約的無標樣法
8.3.3內標消約的無標樣法
8.3.4樣內異相消約的無標樣法
8.4外標消約無標樣定量法
8.4.1外標消約無標樣法原理
8.4.2定量參數(shù)（Ksj、μ*js）的測定
8.4.3樣品含量分析
8.4.4外標消約增量法
8.5特別方法
8.5.1吸收衍射直接定量分析法
8.5.2微量直接定量分析方法
8.5.3Compton散射校正法
8.6衍射全譜擬合物相分析法
8.6.1衍射全譜擬合物相分析法的理論依據
8.6.2衍射全譜擬合的技術要點
8.6.3需要已知晶體結構數(shù)據之全譜擬合定量分析法
8.6.4需要物相純態(tài)的標準譜之衍射全譜擬合定量分析法
8.7分析策略與衍射定量方法的構建
8.7.1分析策略的概念
8.7.2內標消約法
8.7.3外標消約法
8.7.4樣內異相消約法
8.7.5樣間同相消約法
8.7.6樣間異相消約法
8.7.7歸并c值法
8.7.8理論計算K值法
8.8衍射定量實驗技術要點
8.8.1一般注意事項
8.8.2制樣
8.8.3實驗條件的選擇
8.8.4衍射峰“凈”強度的求得
8.8.5全譜擬合方法對實驗的基本要求
8.9衍射定量分析結果的不確定度與方法的檢出限
8.9.1衍射物相定量分析結果的不確定度
8.9.2物相的檢出限
8.10非晶質相的定量
8.10.1非晶質物相含量的估算
8.10.2差值法測定非晶質物相含量
8.10.3結晶度的測定
參考文獻
第9章晶胞參數(shù)的精測及其應用
9.1一般考慮
9.1.1選用高角度的衍射峰
9.1.2測定峰位的方法
9.1.3獲得衍射圖方法的選擇
9.2系統(tǒng)誤差的消除
9.2.1圖解外推法
9.2.2柯亨最小二乘法
9.2.3線對法
9.2.4內標法
9.3精確晶胞參數(shù)的實際測量
9.3.1儀器及其調整和校驗
9.3.2制樣
9.3.3測量
9.3.4結果計算
9.4精確晶胞參數(shù)或晶面間距數(shù)據的應用
9.4.1固溶體類型的研究
9.4.2固溶體、類質同象礦物成分的測定
9.4.3X型、Y型分子篩SiO2/Al2O3比的測定
9.4.4固溶度的測定
9.4.5晶體有序無序結構狀態(tài)的表征
9.4.6測定有關的晶體性質數(shù)據
9.4.7金屬材料中宏觀應力的測量
參考文獻
第10章峰形分析及其應用
10.1概述
10.2衍射線的實測峰形與“真實”峰形
10.2.1卷積的概念
10.2.2衍射線實測峰形的數(shù)學表示
10.2.3影響實測峰形的其他因素及其修正
10.3衍射線真實峰形的提取
10.3.1用Fourier變換法解卷積
10.3.2用迭代法解卷積
10.4峰形寬化分析
10.4.1真實峰形的積分寬
10.4.2兩種寬化效應的關系
10.4.3峰形寬化分析的幾種方法
10.5峰形寬化分析的近似函數(shù)法
10.5.1應用近似函數(shù)法的分析步驟
10.5.2近似函數(shù)法求真實峰形的積分寬度
10.5.3峰形近似函數(shù)的選擇
10.6衍射線真實峰形數(shù)據的應用
10.6.1再論Scherrer公式
10.6.2微觀應力的測定
10.6.3兩種寬化效應同時存在的情況
10.6.4《MDI Jade》的“由峰寬化估算晶粒大小和應變”選項
10.6.5“球鎳”
10.6.6黏土礦物結構缺陷的表征
參考文獻
附錄
附錄1μt=1和衍射強度衰減為10%時試樣的厚度(計算值)
附錄2常見礦物的質量吸收系數(shù)μ*（CuKα）
附錄3晶面間距與點陣參數(shù)的關系
附錄4多晶（粉末）的衍射強度
附錄5X射線衍射分析用X射線管的特征波長及有關數(shù)據
附錄6立方晶系的衍射指標
附錄7Si粉末試樣衍射儀衍射角測值2θ的系統(tǒng)誤差
附錄8衍射分析常用參考物質的衍射數(shù)據
附錄9常見礦物的RIR（K值）
附錄10黏土礦物結構分類表
附錄11測量不確定度報告及表示，測量結果及不確定度的有效位數(shù)
附錄12X射線晶體學資料及數(shù)據庫資源簡介
書單推薦
