第1章 緒論
1.1 簡介
1.2 推動電源管理的要素
1.2.1 更深入地考察電源的影響
1.2.2 市場對降低功耗的壓力
1.2.3 技術(shù)的進步和功耗的減小
1.2.4 節(jié)電的規(guī)范問題
1.3 電壓控制方案的出現(xiàn)
1.3.1 CMOS和電壓
1.3.2 實踐中的多電壓設(shè)計
1.3.3 多電壓控制系統(tǒng)的形象
1.4 組件的驗證
1.4.1 歷史的回顧和展望
1.4.2 能感知電壓的布爾分析
1.5 方法學(xué)的采用和實現(xiàn)
1.5.1 方法學(xué)的差異
1.5.2 采納的方法學(xué)
1.5.3 規(guī)則和指導(dǎo)原則
1.6 本書的結(jié)構(gòu)

第2章 多電壓電源管理基礎(chǔ)
2.1 設(shè)計元素
2.1.1 軌線／電源線網(wǎng)
2.1.2 電壓調(diào)節(jié)器
2.1.3 主軌線
2.1.4 輔助軌線
2.1.5 VDD和Vss
2.1.6 頭單元和腳單元
2.1.7 虛擬的VDD/VSS（源電壓／地電壓）
2.1.8 保持單元
2.1.9 基 極
2.1.10 島
2.1.11 阱
2.1.12 域
2.1.13 總有電源供電的區(qū)
2.1.14 立體交叉
2.1.15 時變
2.1.16 多電壓狀態(tài)或電源狀態(tài)
2.1.17 保護電路
2.1.18 隔離
2.1.19 輸入隔離（停車場）
2.1.20 電平的換擋調(diào)節(jié)
2.1.21 電源狀態(tài)表
2.1.22 狀態(tài)的轉(zhuǎn)移
2.1.23 狀態(tài)序列
2.1.24 PMU（電源管理單元）
2.2 多電壓低功耗設(shè)計風(fēng)格
2.2.1 關(guān)機
2.2.2 待機
2.2.3 休眠／電源門控
2.2.4 保 持
2.2.5 動態(tài)電壓調(diào)節(jié)
2.2.6 離散／連續(xù)的動態(tài)電壓調(diào)節(jié)
2.2.7 離散與連續(xù)電壓調(diào)節(jié)的比較
2.3 結(jié)論

第3章 電源管理隱患
3.1 前言
3.2 結(jié)構(gòu)性錯誤
3.2.1 隔離及其相關(guān)的錯誤
3.2.2 電平換擋及其相關(guān)錯誤
3.2.3 其他結(jié)構(gòu)性錯誤
3.3 控制／序列錯誤
3.3.1 隔離控制錯誤
3.3.2 邏輯混亂
3.4 體系架構(gòu)性錯誤
3.4.1 電源門控錯誤
3.4.2 待機狀態(tài)下的存儲器數(shù)據(jù)遭到破壞
3.4.3 外部元件和軟件的建模
3.5 結(jié)論

第4章 狀態(tài)保持
第5章 多電壓測試平臺的架構(gòu)
第6章 多電壓驗證
第7章 動態(tài)驗證
第8章 規(guī)則及指導(dǎo)原則

附錄A VMM-LP基礎(chǔ)類和應(yīng)用程序包
附錄B 靜態(tài)檢查
附錄C 作者簡介
索引
參考文獻