本書主要內容包括：基本概念、IEEE1149.X標準、單板級可測性設計、邊界掃描測試應用、內建自測試技術、處理器測試技術、嵌入式測試技術。 本書適合于相關領域工程技術人員閱讀，也可作為高等院校電子信息、通信、測試測控、自動化等專業(yè)高年級學生或研究生的教學參考書。