第一章邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
1.1數(shù)字電子電路的基本知識
1.1.1數(shù)字信號和模擬信號
1.1.2數(shù)字電路的基本概念
1.1.3數(shù)制和碼制
1.1.4算術(shù)運算和邏輯運算
1.2邏輯代數(shù)中的三種基本運算
1.3邏輯代數(shù)法則
1.3.1邏輯代數(shù)的基本規(guī)則和定律
1.3.2邏輯代數(shù)的基本定理
1.4邏輯函數(shù)及表示方法
1.4.1邏輯函數(shù)的定義
1.4.2邏輯函數(shù)的表示方法
1.4.3邏輯函數(shù)表示方法之間的互換
1.5邏輯函數(shù)的公式法化簡
1.5.1邏輯函數(shù)的最簡表達式
1.5.2常用的公式法化簡舉例
1.6邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡
1.6.1邏輯函數(shù)的卡諾圖表示法
1.6.2用卡諾圖化簡邏輯函數(shù)
1.6.3具有無關(guān)項的邏輯函數(shù)及其化簡
本章小結(jié)
習(xí)題

第二章門電路及其應(yīng)用
2.1邏輯門電路概述
2.2半導(dǎo)體元器件的開關(guān)特性
2.2.1二極管的開關(guān)特性
2.2.2晶體管的開關(guān)特性
2.2.3MOS管的開關(guān)特性
2.3分立元件邏輯門電路
2.3.1三種最簡單的與、或、非門電路
2.3.2五種常用的復(fù)合邏輯及其門電路
2.4集成邏輯門電路
2.4.1常用的TTL與CMOS集成邏輯門電路芯片
2.4.2TTL與CMOS集成邏輯門使用注意事項
2.4.3不同類型門電路的接口問題
2.4.4TTL與CMOS集成電路性能比較
2.4.5門電路應(yīng)用舉例
2.5實驗一：集成門電路功能的測試與轉(zhuǎn)換
2.5.1實驗?zāi)康?br />2.5.2實驗箱技術(shù)與知識
2.5.3實驗儀器和芯片
2.5.4實驗內(nèi)容及步驟
2.5.5實驗總結(jié)
2.6項目一：聲光控制開關(guān)電路的制作與調(diào)試
2.6.1項目概述
2.6.2聲光控制開關(guān)電路的工作原理
2.6.3聲光控制開關(guān)電路的調(diào)試
本章小結(jié)
習(xí)題

第三章組合邏輯電路及其應(yīng)用
3.1組合邏輯電路概述
3.1.1組合邏輯電路的特點
3.1.2組合邏輯電路的功能描述
3.2組合邏輯電路的分析
3.2.1組合邏輯電路的分析方法
3.2.2組合邏輯電路的分析舉例
3.3組合邏輯電路的設(shè)計
3.3.1組合邏輯電路的設(shè)計方法
3.3.1組合邏輯電路的設(shè)計舉例
3.4常用的組合邏輯電路
3.4.1編碼器和譯碼器
3.4.2半加器和全加器
3.4.3數(shù)據(jù)分配器和數(shù)據(jù)選擇器
3.5實驗二：組合邏輯電路的設(shè)計與測試
3.5.1實驗?zāi)康?br />3.5.2實驗設(shè)備與器件
3.5.3實驗內(nèi)容與步驟
3.6實驗三：集成編碼器、譯碼器的邏輯功能測試及應(yīng)用
3.6.1實驗?zāi)康?br />3.6.2實驗設(shè)備與器件
3.6.3實驗內(nèi)容與步驟
3.7項目二：邏輯筆的設(shè)計與制作調(diào)試
3.7.1項目描述
3.7.2項目電路原理分析與顯示部分設(shè)計
3.7.3項目電路測試
本章小結(jié)
習(xí)題三

第四章觸發(fā)器及其應(yīng)用
4.1觸發(fā)器概述
4.2觸發(fā)器的基本形式（電平觸發(fā)型的觸發(fā)器）
4.2.1基本RS觸發(fā)器
4.2.2同步RS觸發(fā)器
4.2.3D觸發(fā)器
4.2.4JK觸發(fā)器
4.2.5T觸發(fā)器
4.2.6Tˊ觸發(fā)器
4.2.7基本觸發(fā)器的特點
4.3邊沿觸發(fā)型的觸發(fā)器
4.3.1邊沿JK觸發(fā)器
4.3.2.常見的集成邊沿觸發(fā)器
4.4主從觸發(fā)器
4.4.1主從RS觸發(fā)器
4.4.2主從JK觸發(fā)器
4.5觸發(fā)器邏輯功能的轉(zhuǎn)換
4.6實驗四：觸發(fā)器邏輯功能的測試與轉(zhuǎn)換
4.6.1實驗?zāi)康?br />4.6.2實驗設(shè)備與器件
2.5.3實驗儀器和芯片
4.6.4實驗內(nèi)容及步驟
4.7觸發(fā)器的應(yīng)用
4.8項目三：四路搶答器的制作與調(diào)試
4.8.1項目概述
4.8.2四路搶答器電路的工作原理
4.8.3四路搶答器電路的調(diào)試
本章小結(jié)
習(xí)題

第五章集成555定時器及其應(yīng)用
5.1集成555定時器概述
5.1.1555定時器的電路結(jié)構(gòu)和工作原理
5.1.2555定時器的邏輯功能
5.2施密特觸發(fā)器
5.2.1施密特觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)
5.2.2施密特觸發(fā)器的工作原理
5.2.3施密特觸發(fā)器的應(yīng)用
5.3單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
5.2.1單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)
5.2.2單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的工作原理
5.2.3單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的應(yīng)用
5.4多諧振蕩器
5.2.1多諧振蕩器的電路結(jié)構(gòu)
5.2.2多諧振蕩器的工作原理
5.2.3多諧振蕩器的應(yīng)用
5.2.4石英晶體振蕩器
5.5實驗五：555定時器應(yīng)用電路的測試
5.5.1實驗?zāi)康?br />5.5.2實驗技術(shù)與知識
5.5.3實驗儀器與芯片
5.5.4實驗內(nèi)容及步驟
5.5.4實驗總結(jié)
5.6項目四：雙路報警器的制作與調(diào)試
5.6.1項目概述
5.6.2雙路報警器電路的工作原理
5.6.3雙路報警器電路的調(diào)試
本章小結(jié)
習(xí)題

第六章時序邏輯電路及其應(yīng)用
6.1時序邏輯電路概述
6.2時序邏輯電路的分析
6.2.1時序邏輯電路的分析方法
6.2.2時序邏輯電路分析舉例
6.3時序邏輯電路的設(shè)計
6.2.1時序邏輯電路的設(shè)計步驟
6.2.2時序邏輯電路分析舉例
6.4計數(shù)器
6.4.1計數(shù)器的分類
6.4.2二進制計數(shù)器
6.4.3十進制計數(shù)器
6.5集成計數(shù)器及其應(yīng)用
6.5.1集成十進制同步雙計數(shù)器CD
6.5.2集成十進制異步計數(shù)器74LS
6.5.34位二進制同步集成加法計數(shù)器74LS161/
6.5.44位集成二進制同步可逆計數(shù)器
6.5.5集成十進制加減計數(shù)/譯碼/鎖存/驅(qū)動器CC
6.5.6利用集成計數(shù)器構(gòu)成N進制計數(shù)器
6.6實驗六；計數(shù)器的測試與應(yīng)用
6.6.1實驗?zāi)康?br />6.6.2實驗技術(shù)與設(shè)備
6.2.3實驗儀器與芯片
6.2.4實驗內(nèi)容和步驟
6.6.5實驗總結(jié)
6.7寄存器與存儲器
6.7.1寄存器
6.7.2存儲器
6.8項目五：測頻儀的制作與調(diào)試
6.8.1項目概述
6.8.2測頻儀電路的工作原理
6.8.3測頻儀電路的調(diào)試
本章小結(jié)
習(xí)題

第七章模/數(shù)、數(shù)/模轉(zhuǎn)換器及其應(yīng)用
7.1模/數(shù)、數(shù)/模轉(zhuǎn)換器的概述
7.2A/D轉(zhuǎn)換基本原理
7.3A/D轉(zhuǎn)換器的原理與主要性能指標(biāo)
7.3.1A/D轉(zhuǎn)換器的原理
7.3.2A/D轉(zhuǎn)換器的主要性能指標(biāo)
7.4D/A轉(zhuǎn)換器原理和主要性能指標(biāo)
7.4.1D/A轉(zhuǎn)換器的原理
7.4.2D/A轉(zhuǎn)換器的主要性能指標(biāo)
7.5集成A/D、D/A轉(zhuǎn)換器芯片介紹及其應(yīng)用
7.5.1集成A/D轉(zhuǎn)換器芯片介紹及其應(yīng)用
7.5.2集成D/A轉(zhuǎn)換器芯片介紹及其應(yīng)用
7.6實驗七、ADC0804CN芯片的應(yīng)用實驗
7.6.1實驗?zāi)康?br />7.6.2實驗設(shè)備與器件
7.6.3實驗內(nèi)容與步驟
7.6.4試驗總結(jié)
7.7項目六：數(shù)顯溫度測試儀電路的制作與調(diào)試
7.7.1項目描述
7.7.2項目電路及原理分析
7.7.3項目制作與調(diào)試
7.7.4項目總結(jié)
本章小結(jié)
習(xí)題
……
附錄Multisim軟件介紹及應(yīng)用實例
參考文獻