內(nèi)容簡介這是一本實戰(zhàn)為導(dǎo)向的、翔實的Android全埋點技術(shù)與解決方案手冊，是國內(nèi)知名大數(shù)據(jù)公司神策數(shù)據(jù)在該領(lǐng)域多年實踐經(jīng)驗的總結(jié)。由神策數(shù)據(jù)合肥研發(fā)中心負責(zé)人親自執(zhí)筆，他在Android領(lǐng)域有近10年研發(fā)經(jīng)驗，開發(fā)和維護著知名的商用開源Android&iOS數(shù)據(jù)埋點SDK。本書詳細闡述了Android全埋點的8種解決

內(nèi)容介紹這是一部從源代碼角度分析和講解Android虛擬機ART的鴻篇巨著，核心內(nèi)容和價值體現(xiàn)在3個方面：第一，細致、深入地分析了ART虛擬機的架構(gòu)、設(shè)計與實現(xiàn)原理，能讓讀者對ART虛擬機有透徹了解；第二，能讓Andriod系統(tǒng)工程師和應(yīng)用工程師從底層了解整個Android系統(tǒng)的運行機理，從而寫出更高質(zhì)量的應(yīng)用；第三，

本書通過豐富的示例和詳細的講解，介紹了ReactNative這款JavaScript框架。在ReactNative中利用現(xiàn)有的JavaScript和React知識，就可以開發(fā)和部署功能完備的、真正原生的移動應(yīng)用，并同時支持iOS與Android平臺。除了框架本身的概念講解之外，本書還討論了如何使用第三方庫，以及如何編寫

本書是全國大學(xué)生電子設(shè)計競賽培訓(xùn)教程第5分冊，是針對全國大學(xué)生電子設(shè)計競賽的特點和需求編寫的。全書共7章，內(nèi)容包括：時頻測量儀設(shè)計、電氣參數(shù)測量儀、時域測量儀、元件參數(shù)測量儀、頻域測量儀、數(shù)據(jù)域測量儀和其他測量儀的工作原理、設(shè)計基礎(chǔ)、設(shè)計方法及大量設(shè)計舉例。本書內(nèi)容豐富實用、敘述條理清晰、工程性強，可作為高等學(xué)校電子信

本書從網(wǎng)絡(luò)空間的戰(zhàn)略博弈出發(fā)，比較全面地介紹網(wǎng)絡(luò)空間安全基礎(chǔ)理論、密碼學(xué)基礎(chǔ)知識、系統(tǒng)安全理論與技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)安全理論與技術(shù)、應(yīng)用安全理論與知識，構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)空間安全的基本架構(gòu)，還覆蓋了一些新的安全熱點問題，包括匿名網(wǎng)絡(luò)、Web應(yīng)用安全、智能硬件安全、無線網(wǎng)絡(luò)安全、工業(yè)網(wǎng)絡(luò)安全等。

本書全面論述了信號完整性與電源完整性問題。主要講述信號與電源完整性分析及物理設(shè)計概論，4類信號與電源完整性問題的實質(zhì)含義，物理互連設(shè)計對信號完整性的影響，電容、電感、電阻和電導(dǎo)的特性分析，求解信號與電源完整性問題的4種實用技術(shù)途徑，推導(dǎo)和仿真背后隱藏的解決方案，以及改進信號與電源完整性的推薦設(shè)計準則等。本書還討論了信號

本書以通用光通信以及對半導(dǎo)體激光器的需求開始，通過討論激光器的基礎(chǔ)理論，轉(zhuǎn)入半導(dǎo)體的有關(guān)詳細內(nèi)容。書中包含光學(xué)腔、調(diào)制、分布反饋以及半導(dǎo)體激光器電學(xué)性能的章節(jié)，此外還涵蓋激光器制造和可靠性的主題。本書可供半導(dǎo)體激光器、通信類研發(fā)人員、工程師參考使用，也適用于高年級本科生或研究生，作為主修的半導(dǎo)體激光器的課程，亦可作為光

這是一本和教材《交換和路由技術(shù)》（第2版）配套的實驗指南，設(shè)計了驗證教材各章內(nèi)容的一系列實驗，對每一個實驗給出了實驗原理、實驗步驟和命令行配置過程，由于大量實驗都選自實際網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用問題的解決方案，通過實驗可以培養(yǎng)學(xué)生解決實際網(wǎng)絡(luò)問題和實施網(wǎng)絡(luò)工程的能力。

全書以PADSVX.2.2為平臺，介紹了電路設(shè)計的方法和技巧。全書共18章，第1章為緒論；第2章介紹PADSVX.2.2的安裝；第3章介紹PADSVX.2.2的圖形用戶界面PADSLogicVX.2.2；第4章介紹PADSLogicVX.2.2原理圖設(shè)計；第5章介紹原理圖高級編輯；第6章介紹PADSLogicVX.2.

本書主要介紹了數(shù)字集成電路的設(shè)計理論與實踐方法，通過一個完整的CPU電路RTL級驗證、綜合及版圖設(shè)計，讓讀者系統(tǒng)、全面地了解ASIC設(shè)計流程。本書主要內(nèi)容包括：ASIC設(shè)計方法概述、設(shè)計流程及各階段用到的設(shè)計仿真工具；VerilogHDL基礎(chǔ)語法及測試程序建模方法概述；ASIC設(shè)計實驗環(huán)境搭建；CPU基本原理、相關(guān)指令