本書主要為考研數(shù)學(xué)概率論與數(shù)理統(tǒng)計(jì)相關(guān)知識(shí)，還附帶習(xí)題及答案。

數(shù)據(jù)顯示，管理類聯(lián)考綜合能力這一科目的考生人數(shù)已達(dá)每年20萬人以上且在不斷增長，成為考研的一個(gè)熱點(diǎn)領(lǐng)域。本書根據(jù)教育部考試中心發(fā)布的《管理類聯(lián)考考試大綱》要求編寫，內(nèi)容包括算數(shù)與代數(shù)，整式與分式，一元二次函數(shù)、方程、不等式，數(shù)列，平面幾何，立體幾何，解析幾何，排列組合，概率，應(yīng)用題，數(shù)據(jù)描述。本書注重?cái)?shù)學(xué)知識(shí)的系統(tǒng)性和

數(shù)據(jù)顯示，管理類聯(lián)考綜合能力這一科目的考生人數(shù)已達(dá)每年20萬人以上且在不斷增長，成為考研的一個(gè)熱點(diǎn)領(lǐng)域。本書根據(jù)教育部考試中心發(fā)布的《管理類聯(lián)考考試大綱》要求編寫，收集了從1997年到2024年的聯(lián)考數(shù)學(xué)真題，并對每道題目都給出了明確的回答和解析，尤其是重點(diǎn)分析了每道題目的出題思路和對應(yīng)的解答思路，能幫助讀者快速熟悉管

本書共9章，包括：一般概念、已解出導(dǎo)數(shù)的一階方程的若干可積類型，已解出導(dǎo)數(shù)的一階方程的解案存在問題，未解出導(dǎo)數(shù)的一階方程，高階微分方程，線性微分方程的一般理論，特殊形狀的線性微分方程，常微分方程組，偏微分方程、一階線性偏微方程，一階非線性偏微方程，最后附有答案。 本書適合數(shù)學(xué)專業(yè)師生及數(shù)學(xué)愛好者參考閱讀。

歐洲女子數(shù)學(xué)奧林匹克是一項(xiàng)國際性數(shù)學(xué)賽事，每個(gè)參賽國家將派出一支由四名女性參賽選手組成的隊(duì)伍參加比賽，并在每年由各國輪流進(jìn)行賽事舉辦。本書匯集了2012年到2023年歷屆歐洲女子數(shù)學(xué)奧林匹克競賽試題，并給出了其解答。本書適合數(shù)學(xué)奧林匹克競賽選手、教練員、高等院校相關(guān)專業(yè)研究人員及數(shù)學(xué)愛好者參考閱讀。

疏散的馬爾柯夫鏈?zhǔn)且话汶S機(jī)過程的一個(gè)重要的特殊情形，而其詳盡深入的研究則主要是應(yīng)用矩陣方法。本書的著者、蘇聯(lián)已故數(shù)學(xué)家羅曼諾夫斯基在這方面有許多創(chuàng)造性的工作。本書系其晚年所著，綜合了其本人及其他研究者在疏散的馬爾柯夫鏈方面的許多研究成果。本書適合大學(xué)師生及數(shù)學(xué)愛好者閱讀使用。

本書給出了《概率論與數(shù)理統(tǒng)計(jì)》第6版（韓明主編，同濟(jì)大學(xué)出版社）中習(xí)題的詳細(xì)解答。作為補(bǔ)充，還給出了一些典型例題（與原教材中的例題、習(xí)題不重復(fù)），并選取近些年全國碩士研究生入學(xué)統(tǒng)一考試數(shù)學(xué)試題（概率統(tǒng)計(jì)部分）的考研真題，給出了詳細(xì)解答。在第2版的基礎(chǔ)上，本書對一些題目還增加了一題多解，但更希望讀者能給出優(yōu)于本書所提供的

本書主要研究具有臨界指數(shù)的幾類分?jǐn)?shù)階橢圓方程解的存在性、多解性及解的集中性。第一部分，在沒有單調(diào)性條件和(AR)條件下，研究了具有臨界指數(shù)增長的分?jǐn)?shù)階Schrdinger方程基態(tài)解的存在性。第二部分，研究了臨界情況下分?jǐn)?shù)階奇異擾動(dòng)問題解的存在性和集中性。第三部分，研究了具有臨界指數(shù)的分?jǐn)?shù)階Kirchhoff方程解及多解

《物理化學(xué)實(shí)驗(yàn)》是為適應(yīng)新工科專業(yè)建設(shè)編寫的基礎(chǔ)化學(xué)實(shí)驗(yàn)系列教材之一。以物理化學(xué)參數(shù)的測定為主線，強(qiáng)化基礎(chǔ)知識(shí)和基本測量技術(shù)訓(xùn)練。內(nèi)容包括基礎(chǔ)知識(shí)和基本測量技術(shù)、常用儀器簡介、32個(gè)基本實(shí)驗(yàn)、4個(gè)綜合性實(shí)驗(yàn)和4個(gè)設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)等。其中，基礎(chǔ)知識(shí)和基本測量技術(shù)部分較為系統(tǒng)地介紹了溫度測量與控制、真空技術(shù)與壓力測量、光學(xué)測量技

本書以光電子能譜解析材料表面鍵電子性能為主要目標(biāo)，通過改變原子配位受力、受熱和摻雜等對哈密頓量中的晶體勢進(jìn)行微擾，以實(shí)現(xiàn)內(nèi)層電子的能級(jí)偏移，解析這些偏移并獲得(鍵長、鍵能、單原子能級(jí)、成鍵電子局域釘扎、非鍵電子極化原子結(jié)合能結(jié)合能密度和德拜溫度等)基本因變信息，以確定相應(yīng)的物理參量，并揭示物質(zhì)行為規(guī)律以實(shí)現(xiàn)有效控制。